The Magazine of the IEIE (전자공학회지)

The Institute of Electronics and Information Engineers (대한전자공학회)
권호 표지

메모리 테스트를 위한 BIST 기술

  • 전병실 (전북대학교 전자공학과) ;
  • 배성환 (전북대학교 전자공학과, 서남대학교 전산정보학과, 전북대학교 전자공학과, 전북대학교 전자공학과)
  • Published : 1995.12.01
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