Journal of Astronomy and Space Sciences

The Korean Space Science Society (한국우주과학회)
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A STUDY OF RESIDUAL IMAGE IN CHARGED-COUPLED DEVICE

CCD 잔존영상 분석

  • Jin, Ho (Korea Astronomy and Space Science Institute) ;
  • Lee, C.U. (Korea Astronomy and Space Science Institute) ;
  • Kim, S.L. (Korea Astronomy and Space Science Institute) ;
  • Kang, Y.B. (Korea Astronomy and Space Science Institute) ;
  • Goo, J.L. (Korea Astronomy and Space Science Institute) ;
  • Han, W. (Korea Astronomy and Space Science Institute)
  • Published : 2005.12.01
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Abstract

For an image sensor CCD, electrons can be trapped at the front-side $Si-SiO_2$ surface interface in a case of exceeding the full well by bright source. Residual images can be made by the electrons remaining in the interface. These residual images are seen in the font-side-illuminated CCDs especially. It is not easy to find a quantitative analysis for this phenomenon in the domestic reports, although it is able to contaminate observation data. In this study, we find residual images iB dark frames which were obtained from the front-side-illuminated CCD at Mt. Lemmon Optical Astronomy Observatory (LOAO), and analyze the effect to contaminated observation data by residual charges.

CCD 영상센서의 경우 포화 상태를 초과하는 막대한 양의 광자가 조사될 때 $Si-SiO_2$ 접합 면에서 전하가 포획될 순 있으며 이 접합 면에 남아 있는 전하와 관련되어 잔존영상이 보일 수 있다. 이러한 잔존영상은 특히 전면조사 방식의 CCD에서 일어난다. 이 현상이 정밀 측광에 영향을 줄 수 있음에도 불구하고 잔존영상에 대한 정량적인 분석과 보고간 국내에서는 찾아보기 힘들었다. 이에 본 연구에서는 전면조사 방식의 CCD를 사용하는 레몬산천문대 관측자료의 암전자화면에서 잔존영상을 확인하고 잔존영상이 관측에 미칠 수 있는 영향을 분석해 보았다.

Keywords

References

  1. Biretta, J. A. & Mutchler M. 1998, WFPC2 Instrument Science Report, 97, 5
  2. Cavadore, C., Dorn, R., & Beletic, J. 2000, Charge Coupled Devices at ESO Performance and Results (Miinchen: ESO technical report)
  3. Jack, D. M. & Dyck, R. H. 1976, IEEE Journal of Solid-state circuits, 11, 160 https://doi.org/10.1109/JSSC.1976.1050692
  4. Janesick, J. R. 2001, Scientific Charge Coupled Devices (Bellingham: SPIE Press), pp.64-70
  5. Kim, C.-K., Early, J., & Amelio, G. 1972, Northeast Electron. Res. Eng. Meet., 72, 161
  6. Rest, A., Miidermann, L., Widenhorn, R., Bodegom, E., & McGlinnd, T. C. 2002, Review of Scientific Instruments, 73. 5