References
- J. F. Wager, Science 300, 1245 (2003) https://doi.org/10.1126/science.1085276
- S. H. Jeong, B. N. Park, D.-G. Yoo, J.-H. Boo and D. Jung, J. Korean Phys. Soc. 50, 622 (2007) https://doi.org/10.3938/jkps.50.622
- A. I. Li, C. H. Kim, J. H. Cho and B. G. Kim, J. Korean Phys. Soc. 49, S652 (2006)
- H. J. Ko, Y. F. Chen, S. K. Hong, H. Wenisch, T. Ya and D. C. Look, Appl. Phys. Lett. 77, 3761 (2000)
- T. I. Suzuki, A. Ohtomo, A. Tsukazaki, F. Sato, J. Nishi, H. Ohno and M. Kawasaki, Adv. Mater. (Weinheim, Germany) 16, 1887 (2004) https://doi.org/10.1002/adma.200401018
- D. K. Lee, S. Kim, M. C. Kim, S. H. Eom, H. T. Oh and S.-H. Choi, J. Korean Phys. Soc. 51, 1378 (2007) https://doi.org/10.3938/jkps.51.1378
- R. L. Hoffman, B. J. Norris and J. F.Wager, Appl. Phys. Lett. 82, 733 (2003) https://doi.org/10.1063/1.1542677
- G. A. Hirata, J. M. Siqueiros, J. A. Diaz, O. Contreras, J. McKittrick, T. Cheeks and O. A. Lopez, Thin Solid Films 288, 29 (1996)
- K. Y. Cheong, N. Muti and S. R. Ramanan, Thin Solid Films 410, 142 (2002)
- K. Shimakawa and T. Itoh, Jpn. J. Appl. Phys. 46, L577 (2007) https://doi.org/10.1143/JJAP.46.L577
- M. M. Yoshida, F. P. Delgado, W. E. Lopez and E. An- drade, Thin Solid Films 376, 99 (2000)
- R. J. Hong and X. Jiang, Appl. Phys. A 84, 161 (2006) https://doi.org/10.1007/s00339-006-3581-5
- V. Bhosle and J. Narayan, J. Appl. Phys. 100, 093519 (2006) https://doi.org/10.1063/1.2360777
- R. Navamathavan, J. H. Lim, D. K. Hwang, B. H. Kim, J. Y. Oh, J. H. Yang, H. S. Kim, S. J. Park and J. H. Jang, J. Korean Phys. Soc. 48, 271 (2006)
- E. Fortunato, A. Pimentel, L. Pereira, A. Goncalves. G. Lavareda, H. A'guas, I. Ferreira, C. N. Caravalho and R. Martins, J. Non-Cryst. Solids 338, 806 (2004) https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2004.03.096
- H. C. Cheng, C. F. Chen and C. Y. Tsay, Appl. Phys. Lett. 90, 012113 (2007) https://doi.org/10.1063/1.2404590
- C. Y. Kagan and P. W. E. Andry, Thin Film Transistors (Dekker, New York, 2003)
- B. Z. Dong, G. J. Fang, J. F. Wang, W. J. Guan and X. Z. Zhao, J. Appl. Phys. 101, 033713 (2007) https://doi.org/10.1063/1.2437572
- E. M. C. Fortunato, P. M. C. Barquinha, A. C. M. B. G. Pimentel, A. M. F. Goncalves, A. J. S. Marques, R. F. P. Martins and L. M. N. Pereira, Appl. Phys. Lett. 85, 13 (2004) https://doi.org/10.1063/1.1767281
- J. K. Sheu, K. W. Shu, M. L. Lee, C. J. Tun and G. C. Chi, J. Electrochem. Soc. 154, H521 (2007) https://doi.org/10.1149/1.2721760