References
- S. K. Kamila and S. Basu, Bull. Mater. Sci. 25, 541 (2002)
- Y. Ohno, D. K. Young, B. Beschoten, F. Matsukura, H. Ohno and D. D. Awschalom, Nature (London) 402, 790 (1999)
- I. Zutic, J. Fabian and S. Das Sarma, Phys. Rev. B 64, 121201 (2001)
- Y. S. Didosyan, H. Hauser, G. A. Reider and W. Toriser, J. Appl. Phys. 95, 7339 (2004) https://doi.org/10.1063/1.1669350
- Y. Matsumoto, M. Murakami, T. Shono, T. Hasegawa, T. Fukumura, M. Kawasaki, P. Ahmet, T. Chikyow, S. Koshihara and H. Koinuma, Science 291, 854 (2001)
- T. Fukumura, Z. Jin, A. Ohtomo, H. Koinuma and M. Kawasaki, Appl. Phys. Lett. 75, 3366 (1999)
- S. B. Ogale, R. J. Choudhary, J. P. Buban, S. E. Lofland, S. R. Shinde, S. N. Kale, V. N. Kulkarni, J. Higgins, C. Lanci, J. R. Simson, N. D. Browning, S. D. Sarma, H. D. Drew, R. L. Greene and T. Venkatesan, Phys. Rev. Lett. 91, 077205 (2003) https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.91.077205
- K. J. Kim, Y. R. Park and J. Y. Park, J. Korean Phys. Soc. 48, 1422 (2006)
- S. R. Jiang, P. X. Yan, B. X. Feng, X. M. Cai and J. Wang, Mater. Chem. Phys. 77, 384 (2002)
- H. D. Kim, S. J. Oh, I. S. Yang and N. H. Hur, Physica C 253, 351 (1995)
- R. D. Shannon, Acta Crystallogr., Sect. A 32, 751 (1976) https://doi.org/10.1107/S0567739476002015
- J. F. Moulder, W. F. Stickle, P. E. Sobol and K. D. Bomben, Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy (Perkin-Elmer Co., Eden Prairie, Minnesota, 1992), p. 85
- N. H. Hong, J. Sakai and W. Prellier, J. Magn. Magn. Mater. 281, 347 (2004) https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2004.04.125
- T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukura, J. Cibert and D. Ferrand, Science 287, 1019 (2000)
- E. Yagi, R. R. Hasiguti and M. Aono, Phys. Rev. B 54, 7945 (1996)
- H. Tang, K. Prasad, R. Sanjines, P. E. Schmid and F. Levy, J. Appl. Phys. 75, 2042 (1994) https://doi.org/10.1063/1.356425
- J. M. D. Coey, M. Venkatesan and C. B. Fitzgerald, Nature Mater. 4, 173 (2005) https://doi.org/10.1038/nmat1310
- M. S. Park, S. K. Kwon and B. I. Min, Phys. Rev. B 65, 61201 (2002)
- N. H. Hong, J. Sakai and A. Hassini, Appl. Phys. Lett. 84, 2602 (2004) https://doi.org/10.1063/1.1703848