Abstract

A Cold Cathode Fluorescent Lamp(CCFL) is used as a LCD Monitor's backlight widely. The most common way to check CCFL's defects is an examination with the naked eye. This naked eye examination can cause an examination inconsistency and an industrial disaster. To examine CCFL defects, a shooting equipment and a defect detection algorithm are necessary. This paper shows the shooting environments for checking CCFL and presents some CCFL defect detection algorithms. As a result of experiments, our implementations showed 98.32% of successful defect detection of CCFL.

LCD 모니터의 백라이트로 CCFL 형광체를 많이 사용하고 있으나 그 불량여부는 육안에 의존하고 있다. 육안 검사를 함으로써 부품에 대한 일관성 있는 검사가 결여되고, 노동집약적인 검사로 인해 산업적 재해가 발생할 수 있다. 따라서, CCFL 불량유무를 판별하기 위해서 물리적 촬영 환경과 영상처리 알고리즘은 중요하다. 본 논문에서는 CCFL 형광체를 검사하기 위한 촬영환경에 대하여 설명하고, 촬영환경 중 돔 근거리 조명과 점원거리 조명에서의 몇 가지 불량판별 알고리즘을 제시하였다. 불량을 포함한 CCFL 형광체를 사용하여 실험을 수행하였고, 그 결과 제안한 촬영환경과 알고리즘은 불량 판별율 98.32 %와 과검율 4.88 %의 성능을 나타내었다.

Keywords

• CCFL Fluorescent Substance;
• Shooting Environment;
• Defects Detection Algorithm

• CCFL 형광체;
• 물리적 촬영환경;
• 불량판별 알고리즘;