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논문 상세

반도체 테스트 시간 단축을 위한 혼합형 랜덤 패턴 생성기

출판일
20241231
ISSN
(P)1738-2270 / (E)
수록정보
권 4호 24 ~ 28쪽
식별자 정보
이전

논문 저자

No 이름 이메일 기관
1 Sungjae Lee - 호서대학교 전자공학과
2 Sangseok Lee - 호서대학교 전자공학과
3 Jin-Ho Ahn - 호서대학교 전자공학과