Korea PID 종합링킹 시스템

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논문 상세

반도체 소켓 마이크로 핀의 자동 결함 감지를 위한 객체 인식 알고리즘 기반 비전 검사 시스템 설계

출판일
20241230
ISSN
(P)1226-9360 / (E)2287-7525
수록정보
권 4호 57 ~ 63쪽
식별자 정보
DOI10.6117/kmeps.2024.31.4.057
KCIART003158929
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논문 저자

No 이름 이메일 기관
1 Yoon-Ah Park - 한국생산기술연구원
2 Tae-Yeong Jung - 한국생산기술연구원
3 Young-Jun Yoo - 한국생산기술연구원
4 Hae-Guk Cho - (주)티에스이
5 Bo-Hyun Kim - (주)티에스이
6 Hyung-Yong Ji - 한국생산기술연구원
7 Hak-Jun Lee - 한국생산기술연구원