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CMP 후 세정 공정에서 브러쉬 및 웨이퍼 회전 속도에 따른 세정액 유동 해석
출판일
20241231
ISSN
(P)2713-8011 / (E)2713-802X
수록정보
권 6호 299 ~ 302쪽
식별자 정보
DOI
10.9725/kts.2024.40.6.299
KCI
ART003162473
이전
논문 저자
No
이름
이메일
기관
1
Hyunseop Lee
-
동아대학교 기계공학과
2
Jaewook Lee
-
동아대학교 기계공학과